スキャンシステム
スキャニングシステムソリューションは、あらゆる種類のTHz近接場イメージングアプリケーションに理想的なモジュール式プラットフォームです。すべてのシステムコンポーネントは、TeraSpikeマイクロプローブを最大限のパフォーマンスで使用できるように最適化されています。
標準的なスキャニングシステム構成は、お客様側で適切なレーザーシステムと組み合わせることもできますし、光励起用の新しいレーザー光源を追加して拡張することもできます。
スキャニングシステムは、以下のような用途向けに設計されています:
- THzメタマテリアル研究とセンシングアプリケーション
- 半導体ウェハ検査
- シート抵抗イメージング
- グラフェン分析
- THzデバイスの特性評価
- 微細構造解析
- 非破壊検査
TeraCube Scientific
THz near-field scanning system
TeraCube Scientificと新しいTeraCube M2は、光学実験室内で操作できる完全自動のTHz近接場スキャニングシステムです。どちらのシステムも、試料表面までの距離を制御しながら、THz磁場分布を時間領域で測定することができます。プロテミクス独自のTeraSpike近接場マイクロプローブは、平面試料を透過または反射した広帯域THzパルスのイメージングに使用されます。
主な特長
- 同期モーションコントロールとリアルタイム位置検出による連続移動スキャニングの高速データ収集
- 構造化されたサンプルや曲げられたサンプルに対して、マイクロプローブと表面の距離を一定に保ちながら適応的にTHz表面スキャンを行うための光学的サンプルトポグラフィー検出機能
- 偏光依存測定用の直線偏光および回転可能なTHzエミッタ
- 高性能THzエミッタ/ディテクタコンポーネントと高ダイナミックレンジのロックイン検出による優れた信号品質
- マイクロプローブ先端と試料位置のモニタリング用CCDカメラモジュール(オプション)を内蔵
- 付属のPCユニットに簡単にインストールできる、操作が簡単なグラフィックユーザーインターフェースを備えたシステム制御および測定自動化ソフトウェア
- ソフトウェアによるアライメントモニタリング機能とシステムのヘルスチェック機能
- ソフトウェア支援によるマイクロプローブ先端と試料表面の近似
- 高速光学アライメント調整用の時間領域信号プレビューモード
- プレーンテキストまたはMatlab互換フォーマットでのデータエクスポート
- レーザーおよびダスト保護用システムハウジング
- 拡張可能なオープンラボ型システムプラットフォーム
技術仕様
タイプ | TeraCube Scientific | TeraCube M2 |
---|---|---|
スペクトル範囲 | 0.05 – 3 THz | 0.05 – 4 THz |
最大サンプルサイズ (x, y, z) | 20 cm, 20 cm, 1 cm | |
最大スキャン速度 (x, y) | up to 100 mm/s | |
ピクセルあたりの最小スキャン時間 | 10 ms / Single TD position | 10 ms / Full TD Transient (5ps) |
最大走査範囲 (x, y, z) | 18 cm, 18 cm, 3 mm | |
時間領域走査範囲幅 | 1000 ps | 5 .. 200 ps |
時間領域ステップ分解能 (dt) | 6.6 fs | 50 fs |
最小双方向繰り返し精度 (x, y, z) | +-0.1 µm, +-0.1 µm, +-0.15 µm | |
最小ステップ分解能 (dx, dy, dz) | 0.1 µm, 0.1 µm, 0.15 µm |